git.rot13.org Git - goodfet/blob - firmware/include/jtagxscale.h

   1 /*!
   2   \file jtagxscale.h
   3   \author Dave Huseby <huseby at linuxprogrammer.org>
   4   \brief Intel XScale JTAG
   5 */
   6
   7 /* NOTE: I heavily cribbed from the ARM7TDMI jtag implementation. Credit where
   8  * credit is due. */
   9
  10 #ifndef JTAGXSCALE_H
  11 #define JTAGXSCALE_H
  12
  13 #include "app.h"
  14
  15 #define JTAGXSCALE 0x15
  16
  17 /*
  18  * XScale 5-bit JTAG Commands
  19  */
  20
  21 /* On the XScale chip, the TDI pin is connected to the MSB of the IR and the
  22  * TDO is connected to the LSB.  That means we have to shift these commands
  23  * in from LSB to MSB order. */
  24
  25 /* 01000 - High Z
  26  * The highz instruction floats all three-stateable output and in/out pins.
  27  * Also, when this instruction is active, the Bypass register is connected
  28  * between TDI and TDO. This register can be accessed via the JTAG Test-Access
  29  * Port throughout the device operation. Access to the Bypass register can also
  30  * be obtained with the bypass instruction. */
  31 #define XSCALE_IR_HIGHZ                         0x08
  32
  33 /* 11110 - Get ID Code
  34  * The idcode instruction is used in conjunction with the device identification
  35  * register. It connects the identification register between TDI and TDO in the
  36  * Shift_DR state. When selected, idcode parallel-loads the hard-wired
  37  * identification code (32 bits) on TDO into the identification register on the
  38  * rising edge of TCK in the Capture_DR state. Note: The device identification
  39  * register is not altered by data being shifted in on TDI.*/
  40 #define XSCALE_IR_IDCODE                        0x1E
  41
  42 /* 11111 - Bypass
  43  * The bypass instruction selects the Bypass register between TDI and TDO pins
  44  * while in SHIFT_DR state, effectively bypassing the processor’s test logic.
  45  * 02 is captured in the CAPTURE_DR state. While this instruction is in effect,
  46  * all other test data registers have no effect on the operation of the system.
  47  * Test data registers with both test and system functionality perform their
  48  * system functions when this instruction is selected. */
  49 #define XSCALE_IR_BYPASS                        0x1F
  50
  51 /*
  52  * GoodFET Commands from the Client
  53  */
  54 /* commands start at 0xF0 */
  55
  56
  57 /*
  58  * Public Interface
  59  */
  60
  61 /* this handles shifting arbitrary length bit strings into the instruction
  62  * register and clocking out bits while leaving the JTAG state machine in a
  63  * known state. it also handle bit swapping. */
  64 unsigned long jtag_xscale_shift_n(unsigned long word,
  65                                   unsigned char nbits,
  66                                   unsigned char flags);
  67
  68 extern app_t const jtagxscale_app;
  69
  70 #endif // JTAGXSCALE_H
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