git.rot13.org Git - goodfet/blob - firmware/include/jtagxscale.h

   1 /*!
   2   \file jtagxscale.h
   3   \author Dave Huseby <huseby at linuxprogrammer.org>
   4   \brief Intel XScale JTAG
   5 */
   6
   7 /* NOTE: I heavily cribbed from the ARM7TDMI jtag implementation. Credit where
   8  * credit is due. */
   9
  10 /*
  11  * Utility Macros
  12  */
  13
  14 /* XTT (LED TCK TOCK) toggles the CLK line while turning on/off the LED */
  15 #define XTT             CLRTCK;PLEDOUT^=PLEDPIN;SETTCK;PLEDOUT^=PLEDPIN;
  16
  17 /* RUN_TEST_IDLE gets us into run-test-idle from anywhere in the TAP FSM */
  18 #define RUN_TEST_IDLE   SETTMS;XTT;XTT;XTT;XTT;XTT;XTT;XTT;XTT;CLRTMS;XTT;
  19
  20 /* SHIFT_IR gets us into the "Shift IR" state from the run-test-idle state */
  21 #define SHIFT_IR        SETTMS;XTT;XTT;CLRTMS;XTT;XTT;
  22
  23 /* SHIFT_DIR gets us into the "Shift DR" state from the run-test-idle state */
  24 #define SHIFT_DR        SETTMS;XTT;CLRTMS;XTT;XTT;
  25
  26
  27 /*
  28  * XScale 5-bit JTAG Commands
  29  */
  30
  31 /* On the XScale chip, the TDI pin is connected to the MSB of the IR and the
  32  * TDO is connected to the LSB.  That means we have to shift these commands
  33  * in from LSB to MSB order. */
  34
  35 /* 01000 - High Z
  36  * The highz instruction floats all three-stateable output and in/out pins.
  37  * Also, when this instruction is active, the Bypass register is connected
  38  * between TDI and TDO. This register can be accessed via the JTAG Test-Access
  39  * Port throughout the device operation. Access to the Bypass register can also
  40  * be obtained with the bypass instruction. */
  41 #define XSCALE_IR_HIGHZ             0x08
  42
  43 /* 11110 - Get ID Code
  44  * The idcode instruction is used in conjunction with the device identification
  45  * register. It connects the identification register between TDI and TDO in the
  46  * Shift_DR state. When selected, idcode parallel-loads the hard-wired
  47  * identification code (32 bits) on TDO into the identification register on the
  48  * rising edge of TCK in the Capture_DR state. Note: The device identification
  49  * register is not altered by data being shifted in on TDI.*/
  50 #define XSCALE_IR_IDCODE            0x1E
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  52 /* 11111 - Bypass
  53  * The bypass instruction selects the Bypass register between TDI and TDO pins
  54  * while in SHIFT_DR state, effectively bypassing the processor’s test logic.
  55  * 02 is captured in the CAPTURE_DR state. While this instruction is in effect,
  56  * all other test data registers have no effect on the operation of the system.
  57  * Test data registers with both test and system functionality perform their
  58  * system functions when this instruction is selected. */
  59 #define XSCALE_IR_BYPASS            0x1F
  60
  61 /*
  62  * GoodFET Commands from the Client
  63  */
  64
  65 /* Get CHIP ID */
  66 #define XSCALE_GET_CHIP_ID          0xF1
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  68
  69 /*
  70  * Public Interface
  71  */
  72
  73 /* this handles shifting arbitrary length bit strings into the instruction
  74  * register and clocking out bits while leaving the JTAG state machine in a
  75  * known state. it also handle bit swapping. */
  76 unsigned long jtag_xscale_shift_n(unsigned long word,
  77                                   unsigned char nbits,
  78                                   unsigned char flags);
  79
  80 /* this handles shifting in the IDCODE instruction and shifting the result
  81  * out the TDO and return it. */
  82 unsigned long jtag_xscale_idcode();
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